ساخت میکروسکوپی جدید برای تصویربرداری دقیق از سطح در مقیاس نانو

به گزارش گروه دانشگاه خبرگزاری دانشجو، شرکت بروکر (Bruker) از ارائه طیف سنجی مادون قرمز نانومقیاس Dimension IconIR and و سیستم تصویربرداری شیمیایی خود خبر داد.

- یک شرکت خارجی با ترکیب دو روش طیف سنجی و تصویربرداری اقدام به ساخت میکروسکوپی کرده است که می تواند از ویژگی های نانومقیاس سطح اطلاعات بسیار دقیقی ارائه کند.

به گزارش گروه دانشگاه خبرگزاری دانشجو، شرکت بروکر (Bruker) از ارائه طیف سنجی مادون قرمز نانومقیاس Dimension IconIR and و سیستم تصویربرداری شیمیایی خود خبر داد.

این فناوری ترکیبی از Dimension Icon® AFM و فناوری AFM-IR فتوترمال nanoIR™ برای ایجاد استاندارد های جدید در نقشه برداری از ویژگی های مواد شیمیایی با وضوح تصویربرداری شیمیایی زیر 10 نانومتر است.

این پلتفرم جدید که شامل حالت PeakForce Tapping® منحصر به فرد بروکر است، کامل ترین راه حل میکروسکوپی مرتبط را برای کمی سنجی نانوشیمیایی، نانومکانیکی و نانوالکتریک ارائه می دهد.

در نهایت، IconIR انعطاف پذیری و کاربرد بیشتری را برای تحقق اهداف تحقیقاتی پیشگامانه در طیف وسیعی از کاربرد های حوزه پلیمر، زمین شناسی، نیمه هادی و علوم زیستی فراهم می کند.

الکساندر دازی، استاد دانشگاه پاریس-ساکلی، و مخترع روش AFM-IR می گوید: برای اولین بار، IconIR مرا قادر می سازد تا طیف سنجی nanoIR و وضوح تصویربرداری شیمیایی زیر 10 ن�